High-NA EUV mask absorbers thế hệ mới có thể đạt độ dày mỏng hơn đáng kể nhờ hợp kim platinum-tungsten (Pt-W) với chiết suất thấp (low-n), theo một nghiên cứu kỹ thuật mới từ Viện Hàn lâm Khoa học Trung Quốc (Chinese Academy of Sciences), Đại học Jilin, State Key Laboratory of Advanced Manufacturing for Optical Systems và University of Chinese Academy of Sciences, được Semiconductor Engineering đưa tin. Lớp absorber mỏng hơn giúp giảm hiệu ứng shadowing - vấn đề kỹ thuật cốt lõi khi lithography chuyển sang numerical aperture (NA) cao hơn. Đây là tín hiệu sớm về hướng vật liệu cho thế hệ EUV tiếp theo, đáng để bộ phận R&D và mua hàng vật liệu điện tử tại Đông Nam Á theo dõi, dù còn cách sản xuất đại trà nhiều năm.

Bối cảnh: High-NA EUV mask absorbers và bài toán độ dày

EUV lithography sử dụng bước sóng 13,5 nm để in các mạch bán dẫn ở node tiên tiến nhất hiện nay. Photomask (reticle) trong công nghệ này có một lớp absorber - thường làm từ vật liệu gốc tantalum như TaBN hoặc TaN - có nhiệm vụ hấp thụ hoặc phản xạ ánh sáng EUV để tạo pattern. Khi ngành chuyển sang thế hệ High-NA EUV (NA = 0,55, so với 0,33 của hệ EUV hiện tại), góc chiếu tới của chùm sáng tăng lên để đạt độ phân giải cao hơn. Vấn đề là: absorber vẫn giữ nguyên độ dày vật lý trong khi góc chiếu nghiêng hơn, dẫn tới hiện tượng pattern bị che khuất không đối xứng - gọi là "mask shadowing effect". Để giải quyết, ngành cần vật liệu absorber mới có khả năng hấp thụ EUV mạnh hơn trên mỗi đơn vị độ dày, cho phép làm mỏng lớp absorber mà vẫn đảm bảo độ tương phản hình ảnh cần thiết.

Cơ chế: vì sao hiệu ứng shadowing buộc ngành tìm vật liệu mới

Về bản chất hình học, khi NA tăng, chief ray angle (góc tới trung tâm của chùm sáng) tại mặt nạ cũng tăng theo. Với một lớp absorber có độ dày cố định, tỷ lệ giữa chiều cao absorber và kích thước chi tiết pattern (critical dimension) trở nên bất lợi hơn ở góc nghiêng lớn - ánh sáng bị che một phần không đều giữa hai phía của pattern, gây lỗi vị trí (pattern placement error) và mất đối xứng hình ảnh trên wafer. Giải pháp vật liệu học là tìm absorber có hệ số hấp thụ (k) cao và chiết suất (n) thấp hơn so với Ta-based hiện tại ở bước sóng 13,5 nm, để đạt cùng mức suy giảm phản xạ (reflectivity suppression) với lớp vật liệu mỏng hơn đáng kể.

High-NA EUV mask absorbers thế hệ mới: hợp kim Pt-W đang được đánh giá

Nhóm nghiên cứu từ Chinese Academy of Sciences cùng các đơn vị cộng tác đã khảo sát hợp kim Pt-W như một ứng viên low-n absorber thay thế cho vật liệu Ta-based truyền thống. Công bố tập trung vào tính chất màng mỏng (film properties) - bao gồm cấu trúc, mật độ và hằng số quang học - cũng như hiệu suất imaging khi mô phỏng hoặc thử nghiệm ở điều kiện high-NA EUV. Theo tường thuật của Semiconductor Engineering, hướng tiếp cận này nằm trong nỗ lực chung của ngành bán dẫn nhằm tìm vật liệu absorber mới phù hợp hơn với yêu cầu độ dày mỏng của thế hệ lithography tiếp theo, bên cạnh các ứng viên low-n khác đã và đang được nghiên cứu trong vài năm qua.

Ý nghĩa đối với nhà sản xuất điện tử tại Đông Nam Á - theo từng phân khúc

Hiện tại, high-NA EUV chủ yếu triển khai ở các fab logic tiên tiến nhất tại Mỹ, Hàn Quốc, Đài Loan và châu Âu - chưa hiện diện tại Đông Nam Á. Tuy vậy, tác động gián tiếp đáng để các nhóm khác nhau trong khu vực nắm bắt:

So sánh hướng tiếp cận vật liệu absorber

Tiêu chíTa-based (TaBN, TaN) - hiện tạiPt-W alloy - đang nghiên cứu
Mức độ trưởng thành công nghệĐã thương mại hóa, dùng rộng rãi cho EUV hiện tạiGiai đoạn nghiên cứu/đánh giá phòng thí nghiệm
Định hướng chiết suất (n) ở 13,5 nmMức tham chiếu hiện hànhMục tiêu low-n, thấp hơn Ta-based theo công bố
Tác động đến độ dày absorberĐộ dày tiêu chuẩn cho hệ EUV NA 0,33Mục tiêu mỏng hơn, phù hợp hệ High-NA 0,55
Mức độ phù hợp hiệu ứng shadowingTrở nên hạn chế hơn khi NA tăngĐược kỳ vọng cải thiện nhờ lớp mỏng hơn
Tiền chất/kim loại liên quan chuỗi cung ứngTantalumPlatinum, Tungsten

Checklist giám sát & hành động cho bộ phận mua hàng/R&D

FAQ

High-NA EUV mask absorbers khác gì so với absorber EUV thông thường?

Khác biệt chính nằm ở độ dày và vật liệu: absorber cho hệ High-NA (NA 0,55) cần mỏng hơn và có chiết suất thấp hơn để hạn chế hiệu ứng shadowing phát sinh do góc chiếu sáng nghiêng hơn ở NA cao.

Pt-W alloy có thay thế hoàn toàn vật liệu Ta-based không?

Chưa thể khẳng định. Đây là một ứng viên đang được đánh giá ở giai đoạn nghiên cứu film properties và imaging performance; việc thương mại hóa đòi hỏi thêm nhiều bước kiểm chứng về độ ổn định quy trình và khả năng sản xuất quy mô lớn.

Điều này có ảnh hưởng ngay đến nhà sản xuất điện tử tại Việt Nam không?

Không trực tiếp và không ngay lập tức, vì High-NA EUV chưa triển khai tại khu vực. Tuy nhiên đây là chỉ báo hữu ích về hướng phát triển vật liệu bán dẫn thượng nguồn mà các nhà cung cấp vật liệu và R&D trong khu vực nên nắm bắt sớm.

How DIC supports this

DIC cung cấp hóa chất và vật liệu electronic-grade cho các nhà sản xuất điện tử và bán dẫn tại Đông Nam Á, với kho hàng được quản lý theo tiêu chuẩn tách biệt cho vật liệu độ tinh khiết cao, cùng chương trình VMI giúp duy trì nguồn cung ổn định cho các vật liệu đặc chủng. Dù hợp kim Pt-W cho high-NA EUV mask absorbers vẫn đang ở giai đoạn nghiên cứu, đội ngũ DIC theo dõi sát các xu hướng vật liệu bán dẫn để sẵn sàng hỗ trợ khi nhu cầu thương mại phát sinh. Nếu doanh nghiệp bạn cần trao đổi về nguồn cung hóa chất hoặc vật liệu electronic-grade, đội ngũ DIC luôn sẵn sàng kết nối qua form liên hệ.

Bài viết này còn có bản English · ภาษาไทย English →ภาษาไทย →
Nguồn: Semiconductor Engineering